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CFT-II電路板故障綜合檢測系統(tǒng)
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主要硬件
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主要技術(shù)特征
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雙VI曲線測試探棒
單電壓測試探棒（±60V max）
雙屬性40路模擬通道
最大測試頻率為16K
24路5V離線測試數(shù)字通道
精密直流參數(shù)測試單元
離線測試器
尺寸：365*70*253mm
示波器：
雙通道存儲
帶寬 110 MHz
最大采樣率 250MSa/S
支持電阻、電容、二極管測試
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iASA曲線測試 （專利技術(shù)）
單點4窗曲線 （專利技術(shù)）
動態(tài)電壓波形存儲對比（專利技術(shù)）
電阻、電容、二極管存儲對比
IC器件離線直流參數(shù)測試
ASA/VI動態(tài)參考
Beep
電路板網(wǎng)表提取及測試（專利技術(shù)）
自定義測試序列
電路板圖像建庫
保存測試現(xiàn)場
器件快速離線曲線測試
電路板接口的快速VI曲線測試
外掛示波器（萬用表）測試結(jié)果自動存入系統(tǒng)、對比測試
支持單飛針測試設(shè)備（選購）
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HN1600DX/B電路板故障綜合檢測系統(tǒng)
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主要硬件
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主要技術(shù)特征
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雙VI曲線測試探棒
單電壓測試探棒（±60V max）
雙屬性80路模擬通道
最大測試頻率為16K
40路5V在/離線測試數(shù)字通道
精密直流參數(shù)測試單元
離線測試器
尺寸：480mm×140mm×400mm
示波器：
雙通道存儲
帶寬 110 MHz
最大采樣率 250MSa/S
支持電阻、電容、二極管測試
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iASA曲線測試 （專利技術(shù)）
單點4窗曲線 （專利技術(shù)）
動態(tài)電壓波形存儲對比（專利技術(shù)）
電阻、電容、二極管存儲對比
IC器件離線直流參數(shù)測試
ASA/VI動態(tài)參考
Beep
電路板網(wǎng)表提取及測試（專利技術(shù)）
自定義測試序列
電路板圖像建庫
保存測試現(xiàn)場
器件快速離線曲線測試
電路板接口的快速VI曲線測試
外掛示波器（萬用表）測試結(jié)果自動存入系統(tǒng)、對比測試
支持單飛針測試設(shè)備（選購）
邏輯器件（在、離線功能）測試
存儲器件（在、離線功能）測試
用戶自定義測試
運放測試
光耦器件測試
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HN2600DX/B電路板故障綜合檢測系統(tǒng)
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主要硬件
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主要技術(shù)特征
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雙VI曲線測試探棒
單電壓測試探棒（±60V max）
雙屬性80路模擬通道
最大測試頻率為16K
40路全邏輯電平在/離線測試數(shù)字通道
精密直流參數(shù)測試單元
離線測試器
尺寸：510mm×170mm×390mm
示波器：
雙通道存儲
帶寬 110 MHz
最大采樣率 250MSa/S
支持電阻、電容、二極管測試
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iASA曲線測試 （專利技術(shù)）
單點4窗曲線 （專利技術(shù)）
動態(tài)電壓波形存儲對比（專利技術(shù)）
電阻、電容、二極管存儲對比
IC器件離線直流參數(shù)測試
ASA/VI動態(tài)參考
Beep
電路板網(wǎng)表提取及測試（專利技術(shù)）
自定義測試序列
電路板圖像建庫
保存測試現(xiàn)場
器件快速離線曲線測試
電路板接口的快速VI曲線測試
外掛示波器（萬用表）測試結(jié)果自動存入系統(tǒng)、對比測試
支持單飛針測試設(shè)備（選購）
邏輯器件（在、離線功能）測試
存儲器件（在、離線功能）測試
用戶自定義測試
運放測試
光耦器件測試
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HN2600DX/C電路板故障綜合檢測系統(tǒng)
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主要硬件
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主要技術(shù)特征
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雙VI曲線測試探棒
單電壓測試探棒（±60V max）
雙屬性160路模擬通道
最大測試頻率為16K
40路全邏輯電平在/離線測試數(shù)字通道
精密直流參數(shù)測試單元
離線測試器
尺寸：560mm×170mm×390mm
示波器：
雙通道存儲
帶寬 110 MHz
最大采樣率 250MSa/S
支持電阻、電容、二極管測試
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iASA曲線測試 （專利技術(shù)）
單點4窗曲線 （專利技術(shù)）
動態(tài)電壓波形存儲對比（專利技術(shù)）
電阻、電容、二極管存儲對比
IC器件離線直流參數(shù)測試
ASA/VI動態(tài)參考
Beep
電路板網(wǎng)表提取及測試（專利技術(shù)）
自定義測試序列
電路板圖像建庫
保存測試現(xiàn)場
器件快速離線曲線測試
電路板接口的快速VI曲線測試
外掛示波器（萬用表）測試結(jié)果自動存入系統(tǒng)、對比測試
支持單飛針測試設(shè)備（選購）
邏輯器件（在、離線功能）測試
存儲器件（在、離線功能）測試
用戶自定義測試
運放測試
光耦器件測試
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HN2600MX/C電路板故障綜合檢測系統(tǒng)
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主要硬件
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主要技術(shù)特征
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雙VI曲線測試探棒
單電壓測試探棒（±60V max）
雙屬性160路模擬通道
最大測試頻率為41.6K
40路全邏輯電平在/離線測試數(shù)字通道
精密直流參數(shù)測試單元
離線測試器
尺寸：528mm×205mm×423mm
示波器：
雙通道存儲
帶寬 110 MHz
最大采樣率 250MSa/S
支持電阻、電容、二極管測試
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iASA曲線測試 （專利技術(shù)）
單點4窗曲線 （專利技術(shù)）
動態(tài)電壓波形存儲對比（專利技術(shù)）
電阻、電容、二極管存儲對比
IC器件離線直流參數(shù)測試
ASA/VI動態(tài)參考
Beep
電路板網(wǎng)表提取及測試（專利技術(shù)）
自定義測試序列
電路板圖像建庫
保存測試現(xiàn)場
器件快速離線曲線測試
電路板接口的快速VI曲線測試
外掛示波器（萬用表）測試結(jié)果自動存入系統(tǒng)、對比測試
支持單飛針測試設(shè)備（選購）
邏輯器件（在、離線功能）測試
存儲器件（在、離線功能）測試
用戶自定義測試
運放測試
光耦器件測試
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