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在光耦離線測(cè)試中,為何還有“設(shè)置測(cè)試參數(shù)”功能?

修改測(cè)試參數(shù):是指選擇修改測(cè)試參數(shù)功能后, 彈出如下圖所示的測(cè)試參數(shù)設(shè)置對(duì)話框(以參數(shù)測(cè)試為例),用戶可自行修改。修改后僅在本次測(cè)試中有效, 不修改器件庫(kù)和系統(tǒng)缺省設(shè)置。

修改測(cè)試參數(shù),是針對(duì)用戶對(duì)同一型號(hào)光耦的性能要求更高而設(shè)置的。 比如說(shuō)光耦PC817,一般地國(guó)內(nèi)生產(chǎn)的該型號(hào),其光電轉(zhuǎn)換系數(shù)即CTR的最小值為50,這也是其手冊(cè)上的標(biāo)準(zhǔn)值, 但對(duì)于有些設(shè)備上它的要求比較高,所以在測(cè)試時(shí),適當(dāng)調(diào)高它的CTR值,就能挑選性能相對(duì)較高的光耦。

 

 

 

 

 

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