UDT測試功能，是為高級技術(shù)技術(shù)人員開發(fā)的一項功能。

1、希望對一些器件庫中沒有的器件進(jìn)行功能測試。如果這些器件屬于可測試類型， 可以通過器件庫擴(kuò)充解決，比如邏輯器件、電壓型運(yùn)放、光耦等；如果這些器件不屬于測試儀的可測器件類型， 就無法擴(kuò)充進(jìn)去，比如數(shù)模、模數(shù)轉(zhuǎn)換器；有的即使勉強(qiáng)歸入某個測試功能，但測試不能很好反映器件的工作過程， 比如，在邏輯器件測試功能中測試模擬比較器、模擬開關(guān)、晶體管陣列（如2003）等等。

2、希望對整個電路板，或者板上的局部電路進(jìn)行功能測試。從道理上講， 可以把一個電路看成一個器件，但這個器件多數(shù)情況下無法歸入某個可測試類型。

UDT就是專為解決這些問題開發(fā)的。