這里的“綜合檢測(cè)”，是指把目前最常用的檢測(cè)電路板故障的手段——檢測(cè)ASA/VI曲線(xiàn)（電路在線(xiàn)維修測(cè)試儀、ASA/VI曲線(xiàn)測(cè)試儀）、檢測(cè)動(dòng)態(tài)電壓波形（示波器）和檢測(cè)電阻、電容、二極管等（萬(wàn)用表、電容表等）整合在一起，對(duì)故障電路板實(shí)施綜合檢測(cè)，彌補(bǔ)單一測(cè)試的不足。

例如檢測(cè)ASA/VI曲線(xiàn)具有測(cè)試不加電、安全且易操作的特點(diǎn)，但故障檢出率理論上在70%——80%之間，實(shí)際上往往達(dá)不到理論值；示波器須加電檢測(cè)，兩者優(yōu)勢(shì)互補(bǔ)，再加上萬(wàn)用表對(duì)分立元件的參數(shù)測(cè)試，能夠檢測(cè)出電路板的幾乎所有硬件故障。

本系統(tǒng)在統(tǒng)一的圖像交互操作界面、統(tǒng)一的數(shù)據(jù)庫(kù)支持下，能把好電路板上元器件管腳的ASA/VI曲線(xiàn)、動(dòng)態(tài)波形、對(duì)地電阻、電容值等采集下來(lái)，存在電腦中，供日后與故障板的管腳進(jìn)行對(duì)比，實(shí)施故障檢測(cè)。

匯能電路板故障綜合檢測(cè)系統(tǒng)是國(guó)內(nèi)首個(gè)、目前也是唯一集成了多種檢測(cè)技術(shù)的電路板故障檢測(cè)系統(tǒng)。該系統(tǒng)有三種組成形式：

1. 專(zhuān)用測(cè)試軟件 + 匯能CFT-II電子電路故障檢測(cè)儀器
2. 專(zhuān)用測(cè)試軟件 + 匯能CFT-II Plus電子電路故障檢測(cè)儀器（支持外掛示波器）
3. 專(zhuān)用測(cè)試軟件 + 匯能CFT-II Plus電子電路故障檢測(cè)儀器 + 示波器

匯能CFT-II系統(tǒng)主要硬件組成及技術(shù)特征

1.iASA曲線(xiàn)測(cè)試（發(fā)明專(zhuān)利號(hào)ZL 2017 1 0278675.6）

這是匯能對(duì)ASA/VI曲線(xiàn)測(cè)試技術(shù)的主要貢獻(xiàn)之一。見(jiàn)下面測(cè)試實(shí)例：

通常的ASA/VI曲線(xiàn)測(cè)試僅測(cè)試圖中的大曲線(xiàn)。大曲線(xiàn)的測(cè)試信號(hào)幅度在幾伏，能夠反映PN結(jié)（IC管腳）的導(dǎo)通截止故障，所以測(cè)試IC效果較好；但是導(dǎo)通的PN結(jié)曲線(xiàn)會(huì)覆蓋管腳的電阻、電容參數(shù)，導(dǎo)致曲線(xiàn)不能反映分立元件參數(shù)變化。

iASA測(cè)試增加了小信號(hào)曲線(xiàn)（圖中右下角曲線(xiàn)）。它的測(cè)試信號(hào)電壓小于PN結(jié)導(dǎo)通電壓，在PN結(jié)截止的狀態(tài)下，曲線(xiàn)主要由電阻、電容決定，所以能夠反映出它們的變化。上例中是IC管腳上有一個(gè)3K對(duì)地電阻斷掉了，大曲線(xiàn)誤差很小，很難看出問(wèn)題；小曲線(xiàn)誤差很明顯。

2.單點(diǎn)4窗曲線(xiàn)測(cè)試技術(shù)（專(zhuān)利號(hào): 202030635706.1）

單點(diǎn)4窗曲線(xiàn)技術(shù)，是對(duì)同一個(gè)測(cè)試點(diǎn)，一次自動(dòng)測(cè)試4個(gè)輸出電阻的曲線(xiàn)，并同時(shí)顯示在該點(diǎn)的4個(gè)子窗口中，大大減小了單點(diǎn)單窗曲線(xiàn)方式的測(cè)試盲區(qū)。例如下面故障在0.1k輸出電阻時(shí)最明顯，而單點(diǎn)單窗曲線(xiàn)一般不選0.1K，這個(gè)故障很容易漏測(cè)。

3.電壓波形測(cè)試

當(dāng)用CFT-II Plus并且連接了外掛示波器的時(shí)候，測(cè)試指標(biāo)由外掛的示波器決定。

當(dāng)用CFT-II、或者CFT-II Plus沒(méi)有連接外掛示波器的時(shí)候，本測(cè)試儀可作為低頻存儲(chǔ)示波器使用，最大測(cè)試電壓±60V。

4.電阻、電容測(cè)試

當(dāng)用CFT-II Plus并且連接了帶萬(wàn)用表功能的外掛示波器的時(shí)候，測(cè)試指標(biāo)由外掛的示波器決定；

當(dāng)用CFT-II、或者CFT-II Plus沒(méi)有連接外掛示波器的時(shí)候，測(cè)試儀本身提供電阻（5%）、電容（10%）測(cè)試能力。參見(jiàn)下圖：

對(duì)比測(cè)試管腳電容

對(duì)比測(cè)試管腳電阻

外掛提供的管腳二極管導(dǎo)通電壓比較測(cè)試

5.Beep

類(lèi)似于萬(wàn)用表的Beep檔，主要用于支持本測(cè)試儀的電路網(wǎng)表檢測(cè)功能，即維修中的“跑線(xiàn)路”功能。有以下特點(diǎn)：

Beep閾值在1-20歐姆以?xún)?nèi)可設(shè)置。當(dāng)實(shí)測(cè)電阻小于閾值電阻時(shí)，發(fā)出蜂鳴聲

被測(cè)電阻小于100歐姆時(shí)，提示實(shí)際阻值大小

6． 電路板網(wǎng)表輔助提取、測(cè)試功能（專(zhuān)利申請(qǐng)?zhí)枺?02210080704.9）

電路板的電路圖對(duì)維修幫助巨大。得到了一塊電路板的網(wǎng)表（元器件之間的連接關(guān)系），基本上等于得到了電路板的原理圖，目前從電路板上以非破壞性方式獲取網(wǎng)表，基本靠萬(wàn)用表，然而這樣搞的工作量太大，維修中難于采用。

本系統(tǒng)的網(wǎng)表功能，類(lèi)似于萬(wàn)用表，都是通過(guò)檢查器件管腳之間電連通獲取網(wǎng)表，但是本系統(tǒng)能在電腦的支持下，通過(guò)專(zhuān)利算法，把工作量減小到使用萬(wàn)用表時(shí)的十分之一以下。另外該功能還有如下好處：

a. 支持按照電路結(jié)點(diǎn)而不是器件管腳進(jìn)行檢測(cè)，測(cè)試效率提高10倍以上；

b. 斷線(xiàn)、尤其是多層板的斷線(xiàn)問(wèn)題，基本屬于修不好的故障。網(wǎng)表功能提供了修復(fù)的可能；

本系統(tǒng)提供列表、飛線(xiàn)、點(diǎn)位圖三種不同的網(wǎng)表顯示形式。

7．定義測(cè)試序列

對(duì)于經(jīng)常維修的電路板，按照一定的順序進(jìn)行測(cè)試，可以提高工作效率。

a.器件-管腳順序

本系統(tǒng)支持用戶(hù)為電路板上器件排序。器件-管腳序列是按照器件的排列順序，檢測(cè)時(shí)可從選定的器件的第一腳開(kāi)始，系統(tǒng)引導(dǎo)測(cè)試完該器件的所有管腳后，轉(zhuǎn)測(cè)下一個(gè)器件；

b.自定義管腳序列

用戶(hù)任意選擇某些器件管腳，排成一個(gè)序列，程序引導(dǎo)按照序列中的器件管腳順序進(jìn)行測(cè)試。。支持ASA/VI曲線(xiàn)自定義序列和動(dòng)態(tài)電壓波形自定義序列。

參見(jiàn)下圖中由三個(gè)器件管腳組成一個(gè)ASA/VI曲線(xiàn)測(cè)試序列。

8．圖像人- 機(jī)操作界面

匯能測(cè)試軟件的獨(dú)家功能。它的要點(diǎn)，是允許把電路板的照片導(dǎo)入測(cè)試軟件，用戶(hù)直接在電路板上定義元器件，引用對(duì)元器件的測(cè)試。界面友好、高效。參見(jiàn)下圖：

a. 電路板列表窗口；b.板圖像窗口；c.器件管腳曲線(xiàn)窗口；d.用戶(hù)自定義測(cè)試導(dǎo)航窗口

鼠標(biāo)單擊綠框內(nèi)即可調(diào)用對(duì)該器件定義的測(cè)試。

9.保存測(cè)試現(xiàn)場(chǎng)

無(wú)論是學(xué)習(xí)過(guò)的好電路板，還是檢測(cè)過(guò)的故障電路板，檢測(cè)現(xiàn)場(chǎng)都可以完全保留下來(lái)，日后任何時(shí)候都可以打開(kāi)，就像正在測(cè)試一樣。在這個(gè)功能的支持下，建立完整的維修檔案就不再是一件困難的事情——都是在測(cè)試過(guò)程中自動(dòng)記錄的。

10.器件快速離線(xiàn)曲線(xiàn)測(cè)試

支持使用測(cè)試夾/測(cè)試座快速測(cè)試器件管腳ASA/VI曲線(xiàn)。一次可測(cè)試完40管腳以下器件的全部管腳曲線(xiàn)。

11.電路板接口的快速VI曲線(xiàn)測(cè)試

支持定制轉(zhuǎn)接板測(cè)試電路板接口的ASA/VI曲線(xiàn)。一次可測(cè)試最多40個(gè)接口管腳。

12.外掛示波器（萬(wàn)用表）測(cè)試結(jié)果自動(dòng)存入系統(tǒng)、對(duì)比測(cè)試

13.IC器件直流參數(shù)測(cè)試

直流參數(shù)測(cè)試能夠定量檢測(cè)器件的負(fù)載能力，有效解決一些設(shè)備的軟故障,比如溫升故障,老化故障等； 另外還可以進(jìn)行元器件來(lái)料篩選工作,把控芯片質(zhì)量。

性能測(cè)試按照集成電路手冊(cè)規(guī)定的參數(shù)指標(biāo)，檢查集成電路能否完成規(guī)定的電路過(guò)程。例如，對(duì)于數(shù)字集成電路，不僅檢查是否能輸出“低”，而且要檢查在吸入規(guī)定的電流時(shí)，是否能仍然保持“低”等等。在性能測(cè)試下，74LS00、74HC00、74H00是不一樣的。

14.支持單飛針測(cè)試設(shè)備（選購(gòu)）

本系統(tǒng)具有控制某種飛針測(cè)試設(shè)備移動(dòng)一個(gè)測(cè)試探棒進(jìn)行測(cè)試，從而取代人工操作，不僅大幅提高測(cè)試效率，同時(shí)較好解決了小腳距、高密度封裝元件的測(cè)試問(wèn)題。

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