3、ASA電路板圖像建庫(kù)測(cè)試

如果手邊沒(méi)有好板，經(jīng)驗(yàn)不足的人往往無(wú)法下手檢測(cè)；即使經(jīng)驗(yàn)豐富者，沒(méi)有好板作為參照也導(dǎo)致維修成功率、維修速度大大降低。有無(wú)好板——實(shí)際上是參照標(biāo)準(zhǔn)對(duì)于高效、成功維修十分重要。通過(guò)本功能，可以在有好板的時(shí)候（例如在設(shè)法修好一塊板后），為它建庫(kù)——采集ASA特征存入電腦，作為下次測(cè)試的參照標(biāo)準(zhǔn)，就好像總有好板在手邊。該功能的主界面如下：

單擊選中學(xué)習(xí)功能。創(chuàng)建電路板、器件只能在該功能下進(jìn)行。

3.1 創(chuàng)建電路板

a. 創(chuàng)建電路板

在界面左側(cè)中，你打算將電路板放在哪個(gè)文件夾里，鼠標(biāo)右鍵單擊文件夾，彈出創(chuàng)建菜單：

鼠標(biāo)左鍵單擊其中的：

• 創(chuàng)建子設(shè)備：在該文件夾中創(chuàng)建一個(gè)文件夾；
• 創(chuàng)建電路板：在該文件夾中創(chuàng)建一個(gè)電路板。

單擊“創(chuàng)建電路板”，彈出創(chuàng)建窗口：

輸入給電路板起的名字，單擊“確認(rèn)”，創(chuàng)建的電路板出現(xiàn)在該文件夾下面。

b. 導(dǎo)入電路板圖像

先給電路板拍張照片放在電腦中。右鍵單擊創(chuàng)建的電路板，彈出菜單：

單擊其中“導(dǎo)入電路板圖像”，彈出窗口：

單擊“瀏覽”，找到照片文件選中后，又退回這里。單擊“確認(rèn)”創(chuàng)建完畢。電路板圖像出現(xiàn)在右側(cè)。見(jiàn)下圖示例：

3.2 創(chuàng)建元器件

a. 創(chuàng)建矩形

鼠標(biāo)光標(biāo)放在元器件左上角，按下左鍵不放手，拖動(dòng)到右下角松手，創(chuàng)建好一個(gè)覆蓋了元器件的矩形。

b.給矩形關(guān)聯(lián)元器件

右鍵單擊矩形，彈出窗口：

元、器件類型包括以下幾種，根據(jù)具體元器件選擇：

• 測(cè)試點(diǎn)：只有一個(gè)管腳的元件，以小圓圈表示；
• 電阻、電容、電感、二極管：與通用的電路圖符相同。
• 器件：不屬于上述的所有其它元器件。統(tǒng)稱為器件。

c. 設(shè)置測(cè)試參數(shù)

單擊“設(shè)置ASA參數(shù)”，彈出設(shè)置窗口：

打開窗口時(shí)給出常用參數(shù)，一般不用修改。設(shè)置完參數(shù)[確認(rèn)]退出后，矩形變成相應(yīng)的元器件圖符：

3.3 測(cè)試元器件

1. 電路板建庫(kù)——學(xué)習(xí)好板曲線

1）學(xué)習(xí)測(cè)試點(diǎn)、雙端元件的曲線

在屏幕上方的工具欄中，鼠標(biāo)左鍵單擊、選中。紅棒插入測(cè)試儀面板上的“A口O1”插孔，黑棒插入“地”插孔。鼠標(biāo)左鍵雙擊要測(cè)試的元件，自動(dòng)打開下圖左側(cè)的測(cè)試窗口并啟動(dòng)測(cè)試——反復(fù)測(cè)試并刷新窗口顯示；同時(shí)，在右側(cè)的電路板圖像上，正在測(cè)試的對(duì)象（紅圈內(nèi)）不斷閃爍，提示測(cè)試位置。

對(duì)于測(cè)試點(diǎn)，一般參考點(diǎn)（黑棒）接地，紅棒點(diǎn)測(cè)提示位置；對(duì)于雙端元件，在元件兩端進(jìn)行測(cè)試。

參數(shù)設(shè)置在測(cè)試窗口右側(cè)，可用鼠標(biāo)拖動(dòng)窗口分割線把它亮出來(lái)。參見(jiàn)下圖：

在測(cè)試窗口定義的鍵盤操作如下：

a)“Ctrl”：暫停/恢復(fù)測(cè)試；
b)“Space”：自動(dòng)保存當(dāng)前測(cè)試曲線，轉(zhuǎn)測(cè)下一測(cè)試對(duì)象；
c)“Tab”：打開測(cè)試點(diǎn)的導(dǎo)航信息窗口；
d)“Rtn”：保存退出，測(cè)試窗口消失；
e)“Esc”：不保存退出，測(cè)試窗口消失。

電路板圖像上的鼠標(biāo)操作：

a) 左鍵雙擊其它元器件，自動(dòng)存儲(chǔ)對(duì)當(dāng)前元件的測(cè)試結(jié)果，轉(zhuǎn)測(cè)被雙擊的元件；
b) 左鍵單擊工具欄，可直接轉(zhuǎn)換測(cè)試功能。例如由“學(xué)習(xí)”直轉(zhuǎn)“比較”；
c) 對(duì)其它元件進(jìn)行輸入、編輯等。

2）學(xué)習(xí)IC、雙端元件的管腳Asa曲線

鼠標(biāo)左鍵單擊、選中，然后鼠標(biāo)雙擊要測(cè)試的元、器件，即可轉(zhuǎn)入測(cè)試界面：

有多少個(gè)管腳，就有多少個(gè)“小窗口”來(lái)顯示管腳測(cè)試結(jié)果。若測(cè)試工具是測(cè)試夾，單擊工具欄中的，重新測(cè)試所有管腳的曲線，并刷新顯示；本界面上還安排了很多操作用來(lái)方便使用。例如：

a) 用鼠標(biāo)左鍵雙擊某個(gè)矩形中，啟動(dòng)對(duì)該管腳的連續(xù)測(cè)試，測(cè)試到的曲線將出現(xiàn)在矩形中。
b）如正在測(cè)試某曲線，按“Space”鍵，轉(zhuǎn)測(cè)下一腳；
c）鼠標(biāo)雙擊正在測(cè)試的管腳曲線，停止測(cè)試；
d）放大、縮小曲線；
e）打開某個(gè)管腳的故障導(dǎo)航窗口。
測(cè)試完成后，單擊退回前一界面。再雙擊另外的元器件，又會(huì)轉(zhuǎn)入曲線測(cè)試界面。

b. 測(cè)試壞板

首先在工具欄中單擊選中“比較”功能，然后在壞板上進(jìn)行測(cè)試。后面的操作與“學(xué)習(xí)”是完全一樣的。不再具體介紹。參見(jiàn)下面示例：

藍(lán)色是學(xué)習(xí)曲線，紅色曲線是剛測(cè)試的比較曲線。比較完一個(gè)元器件后，它的顏色會(huì)隨比較結(jié)果改變。紅色——比較失�。痪G色——比較通過(guò)；黃色——沒(méi)有執(zhí)行比較測(cè)試。參見(jiàn)下節(jié)中的圖示。

對(duì)器件管腳的比較測(cè)試示例參見(jiàn)下圖：

c、記錄測(cè)試現(xiàn)場(chǎng)

本功能用于自動(dòng)記錄在被測(cè)板上測(cè)試了哪些元器件以及測(cè)試結(jié)果。參見(jiàn)下圖左側(cè)中的電路板列表：

在名為“演示板”的電路板文件下面，有3個(gè)測(cè)試記錄，是三位工程師分別在檢修時(shí)建立的，對(duì)每個(gè)元器件的比較測(cè)試結(jié)果將自動(dòng)記錄其中，可在日后任何時(shí)候打開來(lái)看，就像剛剛做完檢測(cè)一樣。在每個(gè)板文件下面，可建立任意多個(gè)測(cè)試記錄。用鼠標(biāo)單擊測(cè)試記錄名，右邊顯示出該測(cè)試記錄中的比較測(cè)試情況。例如：

a.測(cè)試記錄1

參見(jiàn)上圖。該記錄名表示是某人——張工、某時(shí)——2016_1_1進(jìn)行檢測(cè)時(shí)的記錄。記錄名可任意。

注意，張工檢測(cè)的這塊板，左邊兩個(gè)測(cè)試點(diǎn)是紅色的，表示檢測(cè)時(shí)比較失敗。如需察看比較失敗的具體情況，在工具欄中單擊選中“顯示”功能，然后雙擊元器件，就會(huì)打開相應(yīng)窗口，顯示當(dāng)時(shí)的比較測(cè)試曲線。

b．測(cè)試記錄2

李工在2016_2_2檢測(cè)另一塊故障板的測(cè)試記錄。與前面張工的不同。中間兩個(gè)測(cè)試點(diǎn)測(cè)試失敗。

c．測(cè)試記錄3

王工在2016_3_3的檢測(cè)記錄。與前面都不一樣。沒(méi)有比較測(cè)試點(diǎn)、但有兩個(gè)電阻比較失敗。

d、故障導(dǎo)航信息

本系統(tǒng)自動(dòng)為電路板上每個(gè)元器件、元器件的每個(gè)管腳關(guān)聯(lián)一個(gè)文件，把對(duì)該元件、或元器件管腳的測(cè)試注意事項(xiàng)、成功的維修經(jīng)驗(yàn)總結(jié)后記錄在這里，就成為后人的故障導(dǎo)航信息。測(cè)到某元件、或管腳后，點(diǎn)一下鼠標(biāo)、或者按“Tab”鍵，即可打開。沒(méi)有輸入過(guò)內(nèi)容的導(dǎo)航窗口是空白的，如果以前輸入過(guò)內(nèi)容，就會(huì)把輸入的內(nèi)容顯示出來(lái)，供參閱，也可以追加新內(nèi)容。

支持對(duì)文字和圖形的處理；支持輸入文字、剪切屏幕局部、插入圖片文件等操作。下面舉例如何使用導(dǎo)航信息。

假設(shè)在某測(cè)試點(diǎn)時(shí)，學(xué)習(xí)曲線和比較曲線相差大，這時(shí)，按“Tab”鍵打開該測(cè)試點(diǎn)的導(dǎo)航信息窗口，看看前面是否有人修過(guò)這里。參見(jiàn)下圖：

從顯示的內(nèi)容中可以看到：

“李工”在2017-10-23日檢測(cè)過(guò)這種板、損壞的現(xiàn)象是“X軸回位異�！�、當(dāng)時(shí)比較測(cè)試的Asa曲線如圖中所示、最后通過(guò)更換電阻R7修復(fù)。
鑒于本次的故障曲線與上次完全一樣，有理由采用同樣的處理措施�？梢岳^續(xù)追加新的內(nèi)容。

e. 顯示所有測(cè)試記錄中的曲線

把一個(gè)器件的學(xué)習(xí)曲線、以及在所有測(cè)試記錄中的比較曲線同時(shí)顯示出來(lái)，觀察曲線的離散性、或者分析曲線變化和故障的關(guān)系等；

首先單擊選中，再雙擊元器件，進(jìn)入顯示介面。參見(jiàn)下圖對(duì)某測(cè)試點(diǎn)的所有曲線顯示：

可以選擇顯示所有、某個(gè)或某幾個(gè)測(cè)試記錄的曲線。

f．測(cè)試記錄轉(zhuǎn)為電路板

對(duì)電路板進(jìn)行比較測(cè)試時(shí)，有明顯不一致的曲線，但是確認(rèn)電路板是好的。導(dǎo)致這種情況的原因之之一是：修改了局部電路、或者使用了不同廠家器件。利用這一功能，把對(duì)該板的測(cè)試記錄轉(zhuǎn)為學(xué)習(xí)文件，就得到了這種電路板的另一個(gè)參照標(biāo)準(zhǔn)。