6．存儲器件在線/離線功能測試（CFT與CFT-I不支持此項功能）

除了測試代碼長之外，在線處理與邏輯器件基本相同�？蓽y試SRAM、DRAM、PRPM、EPROM約3000余種型號。下面對存儲器件的測試方法進行說明。

1．只讀存儲器（PROM,EPROM）

學習：從好的器件中，讀出所存儲的內(nèi)容，存成數(shù)據(jù)文件，作為測試的參照標準；

測試：讀出被測器件中的內(nèi)容，與學習內(nèi)容進行逐字節(jié)比較，完全一致說明被測器件無故障；否則詳細顯示出錯地址、該地址中的正確內(nèi)容和當前出錯內(nèi)容。

2．讀寫存儲器（SRAM,DRAM）

先寫入01010101，讀出檢查、再寫入10101010，再讀出檢查。兩次正確說明該存儲單元功能正常。由于測試會破壞存儲內(nèi)容，對于電池支持的SRAM存儲器，除非有辦法恢復原有內(nèi)容，否則不能測試。在維修測試中，常常不需要檢測存儲器件的每一個存儲地址。為此設施了兩種測試方案：

a．快速測試
從存儲器的全部地址單元中，按一定算法選取其中若干單元進行測試。

b．完全測試
對每一個存儲單元都要進行檢測。優(yōu)點是測得仔細，缺點是測試時間較長。參見下面的EPROM學習界面。界面中以反匯編形式顯示的學習內(nèi)容。